Home >  Term: sekundära ion masspektrometri (SIMS)
sekundära ion masspektrometri (SIMS)

En precision mätning teknik användas för att analysera kvantitativt grundämnen och isotoper av material i mikroskopisk skala (med en typisk rumslig upplösning på 1 mikrometer). A SIMS instrumentet kallas även en ion microprobe.

0 0

Creator

  • Ingvar.Esak
  •  (V.I.P) 33219 points
  • 100% positive feedback
© 2024 CSOFT International, Ltd.