Home > Term: sekundära ion masspektrometri (SIMS)
sekundära ion masspektrometri (SIMS)
En precision mätning teknik användas för att analysera kvantitativt grundämnen och isotoper av material i mikroskopisk skala (med en typisk rumslig upplösning på 1 mikrometer). A SIMS instrumentet kallas även en ion microprobe.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Ingvar.Esak
- 100% positive feedback