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espectrometria de massa de íons secundários (SIMS)

Uma técnica de medição de precisão usada para analisar quantitativamente os elementos e isótopos de materiais em escalas microscópicas (com uma resolução espacial típica de 1 micrômetro). SIMS um instrumento denomina-se também um íon petrográfico.

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  • Filipe2012
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