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espectrometria de massa de íons secundários (SIMS)
Uma técnica de medição de precisão usada para analisar quantitativamente os elementos e isótopos de materiais em escalas microscópicas (com uma resolução espacial típica de 1 micrômetro). SIMS um instrumento denomina-se também um íon petrográfico.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
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- Filipe2012
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(Portugal)