Home > Term: spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS)
spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS)
Dokładność pomiaru techniki wykorzystywane do ilościowo analizować elementy i izotopy materiałów w skali mikroskopowej (o typowe rozdzielczości przestrzennej 1 mikrometr). SIMS instrument jest również nazywany microprobe jonów.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Marek Gac
-
(Platinum) 6916 points - 100% positive feedback
