Home > Term: sekundær ion Massespektrometri (SIMS)
sekundær ion Massespektrometri (SIMS)
En presisjon måling teknikk som brukes til å analysere kvantitativt elementene og isotoper av materialet på mikroskopiske skalaer (med en typisk romlig oppløsning på 1 micrometer). A SIMS instrument kalles også et ion-microprobe.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Irene Baglien
-
(V.I.P) 31473 points - 100% positive feedback
(Norway)
