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spettrometro di massa di ioni secondari (SIMS)
Una tecnica di misura di precisione utilizzata per analizzare quantitativamente gli elementi e isotopi di materiali su scala microscopica (con una risoluzione spaziale tipica di 1 micrometro). Uno strumento di SIMS è anche chiamato una microsonda ionica.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
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- ceciliam73
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