Home > Term: spektrometri massa ion sekunder (SIMS)
spektrometri massa ion sekunder (SIMS)
Teknik pengukuran presisi yang digunakan untuk menganalisis secara kuantitatif unsur-unsur dan isotop bahan pada skala mikroskopik (dengan Resolusi spasial khas 1 micrometer). Alat SIMS juga disebut ion microprobe.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Gusty999
-
(Platinum) 6650 points - 88.89% positive feedback
(Bandung, Indonesia)
