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spectrométrie de masse à ions secondaires (SIMS)
Une technique de mesure de précision utilisée pour analyser quantitativement les éléments et isotopes des matériaux à l'échelle microscopique (avec une résolution spatiale typique de 1 micromètre). A SIMS instrument est aussi appelé une microsonde ionique.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
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Creator
- Adelard
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