Home > Term: teisene ioonide mass-spektromeetria (SIMS)
teisene ioonide mass-spektromeetria (SIMS)
Täpsus mõõtmise tehnika, mida kasutatakse kvantitatiivse analüüsi elemendid ning isotoobid materjalide mikroskoopiline kaalud (koos tüüpiline ruumilise resolutsiooni 1 mikromeeter). A SIMS vahend on ka nn ioon-microprobe.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- M Pütsep
- 100% positive feedback