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espectrometría de masas de iones secundarios(SIMS)
Una técnica de medición de precisión utilizada para analizar cuantitativamente los elementos e isótopos de materiales a escala microscópica (con una resolución espacial típica de 1 micrómetro). Un instrumento SIMS también se llama una microsonda de iones.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
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- marthav
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