Home > Term: espectrometría de masas de iones secundarios(SIMS)
espectrometría de masas de iones secundarios(SIMS)
Una técnica de medición de precisión utilizada para analizar cuantitativamente los elementos e isótopos de materiales a escala microscópica (con una resolución espacial típica de 1 micrómetro). Un instrumento SIMS también se llama una microsonda de iones.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- marthav
- 100% positive feedback