Home > Term: Espectrometria de massa d'ions secundaris (SIMS)
Espectrometria de massa d'ions secundaris (SIMS)
Una tècnica de mesura de precisió solia quantitativament analitzar els elements i Isòtops de materials a escala microscòpica (amb una resolució espacial típica de 1 micròmetre). A SIMS instrument s'anomena un ió microprobe.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Berenguer Nier
- 100% positive feedback