Home >  Term: Espectrometria de massa d'ions secundaris (SIMS)
Espectrometria de massa d'ions secundaris (SIMS)

Una tècnica de mesura de precisió solia quantitativament analitzar els elements i Isòtops de materials a escala microscòpica (amb una resolució espacial típica de 1 micròmetre). A SIMS instrument s'anomena un ió microprobe.

0 0

Creator

© 2024 CSOFT International, Ltd.