Home > Term: вторична йонна мас-спектрометрия (SIMS)
вторична йонна мас-спектрометрия (SIMS)
Техника за точност на измерване, използвани за количествено анализ на елементи и изотопи на материали в микроскопични мащаби (с типичен пространствена резолюция от 1 микрометър). Инструмент на SIMS също се нарича йонен microprobe.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- tabacoff
- 100% positive feedback
(Bulgaria)