Home >  Term: вторична йонна мас-спектрометрия (SIMS)
вторична йонна мас-спектрометрия (SIMS)

Техника за точност на измерване, използвани за количествено анализ на елементи и изотопи на материали в микроскопични мащаби (с типичен пространствена резолюция от 1 микрометър). Инструмент на SIMS също се нарича йонен microprobe.

0 0

Creator

  • tabacoff
  • (Bulgaria)

  •  (Gold) 1229 points
  • 100% positive feedback
© 2024 CSOFT International, Ltd.